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1. 硬度計(jì)
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2. 測(cè)厚儀
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3. 探傷儀
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4. 金相設(shè)備
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5. 通用檢測(cè)儀
表面粗糙度儀 | 粘度計(jì) | 光澤儀 | 色差儀
附著力測(cè)試儀 | 沖擊儀 | 鹽份儀 | 測(cè)振儀
建標(biāo)專用試塊
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超聲波探傷儀不同探頭的特點(diǎn)
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資料來源:滄州市歐譜檢測(cè)儀器有限公司
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1.當(dāng)超聲波探傷儀斜探頭的入射角大于或等于第二臨界角時(shí),在工件中孕育產(chǎn)生外貌波,外貌波探頭用于探測(cè)外貌或近外貌缺陷。
2.雙晶探頭有兩塊壓電晶片,一塊用于發(fā)射超聲波,另一塊用于汲取超聲波。根據(jù)入射角差異,分為雙晶縱波探頭和雙晶橫波探頭。
雙晶探頭具有以下好處:
(1) 敏銳度高
(2) 雜波少盲區(qū)小
(3) 工件中近場(chǎng)區(qū)長度小
(4) 探測(cè)范疇可調(diào)雙晶探頭緊張用于探傷近外貌缺陷。聚焦探頭種類較多。
3. 超聲波探傷儀探頭型號(hào)探頭型號(hào)的組成項(xiàng)目及分列序次如下:根本頻率-晶片質(zhì)料-晶片尺寸-探頭種類-特征