產(chǎn)品名稱：Minitest700系列涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)地：德國(guó) 銷售：滄州歐譜
簡(jiǎn)介：創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精確性，測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用，F(xiàn)N探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)，SIDSP技術(shù)-全球新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭，模擬信號(hào)處理歐譜已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。

有了新的SIDSP F型探頭(測(cè)量鐵基體)和N型探頭(測(cè)量非鐵基體)，您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長(zhǎng)期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。

一、MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽

- SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
- 可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤

- 生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件

二、主機(jī)技術(shù)參數(shù)

型號(hào) 特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量	最多10,000個(gè)	最多10,000個(gè)	最多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)，最小值，最大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲、光報(bào)警提示超過極限
測(cè)量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

三、探頭技術(shù)參數(shù)

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測(cè)量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測(cè)量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號(hào)處理	探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
精確度	±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性	±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
最小曲率半徑(凸)	1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑(凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
最小曲率半徑(凹，內(nèi)置探頭)	30mm		30mm			30mm
最小測(cè)量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
最小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度	每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下最大測(cè)量速度	每分鐘70個(gè)讀數(shù)

四、標(biāo)準(zhǔn)配置

帶塑料手提箱，內(nèi)含：
1.MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
- 或MINITEST 730(外置探頭)
- 或MINITEST740主機(jī)(不含探頭，有各種探頭可選) 2.校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
3.操作使用說明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
4.2節(jié)AA電池