熒光測厚儀
熒光測厚儀，即x射線熒光鍍層測厚儀，利用X-射線照射物體待測部位，從而使鍍膜、素材及中間層膜產(chǎn)生特定的X-射線，檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為與X射線強(qiáng)度成比例的電信號，經(jīng)由儀器記錄處理即可得到鍍膜的厚度。X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速、準(zhǔn)確、非破壞、非接觸、小面積測量、多層合金測量、高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，對產(chǎn)品質(zhì)量管理及企業(yè)成本節(jié)約有著重要作用，廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體、PCB、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器等行業(yè)。
熒光測厚儀，即x射線熒光鍍層測厚儀，利用X-射線照射物體待測部位，從而使鍍膜、素材及中間層膜產(chǎn)生特定的X-射線，檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為與X射線強(qiáng)度成比例的電信號，經(jīng)由儀器記錄處理即可得到鍍膜的厚度。X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速、準(zhǔn)確、非破壞、非接觸、小面積測量、多層合金測量、高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，對產(chǎn)品質(zhì)量管理及企業(yè)成本節(jié)約有著重要作用，廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體、PCB、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器等行業(yè)。
